応用統計学
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多項式指標による射影追跡
岩崎 学福永 真美
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1989 年 18 巻 3 号 p. 103-128

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抄録
射影追跡は,探索的な多変量データ解析において,多次元空間の点の集まりであるデータを直線あるいは平面などの低次元空間に線形射影して,データの散布の構造を探る解析手法であり,コンビュータ・グラフィックスを十分に利用するものである.
射影追跡の要点は,データの「特徴的な構造」を「非正規性」として意識する点にある.本報告では,射影追跡の考え方を紹介した後,直交多項式に基づく射影指標のクラスを定義し,今までに提案された指標がその特別の場合であることを示す.さらに,諸指標の性質を,二つの正規分布の混合の場合を例に取って考察し,各指標の特徴を吟味する.そして,特にFriedmanの射影指標に関し,多項式の次数の決定に関する経験的な指針を与える.最後に,応用例をあげると共に,これからの実際の適用に関する注意点もいくつか述べる.
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