照度差ステレオ法を用いた電子部品の外観検査の試み

抄録

工業製品の生産において外観検査は生産ラインの品質および歩留まりの向上を果たす重要な役割を担っている。
外観検査の方法としては様々な方法が実用化されており，三次元計測によって精度の高い検査を行うものもあるが，概して高価な機材が必要とされる。そこで比較的安価に三次元の外観検査を行う手法として，特殊な器具を用いずカメラと複数の照明だけで三次元情報が取得可能な照度差ステレオ法に着目した。
本来，照度差ステレオ法は金属面のような鏡面反射物体に適用するには不向きであったが，光源を多数用いることで鏡面反射の影響を抑えることが可能であるため，本研究において電子部品の外観検査への応用を試みている。