条件付き確率に基づく絶縁診断結果の考え方

抄録

本論文は、xp(%)の確率で絶縁異常がある場合に異常であると正しく評価できる診断装置が下した異常判定の正しさを、条件付き確率であるベイズの理論に基づき議論したものである。具体的には、N個の正常な電力機器がある場合、以下のパラメータ、即ち経年により異常な機器の割合rが増加すること、異常でない機器をxf(%)の確率で誤って異常であると診断すること、とし、xp、r、xfを変化させた時の異常であると診断した際に本当に異常である確率（真陽性率）を求め、議論した。