多周波AR-CSI法による同心二層誘電体円柱の再構成ー適切な正則化パラメータの値設定ー

抄録

本稿では,自由空間中に同心二層誘電体円柱があるとし,そこに電磁波を照射することで得られる散乱データを基に比誘電率を推定する電磁波逆散乱問題について，正則化パラメータの値や外乱が再構成結果に及ぼす影響を数値的に考察している．解析手法として，多周波散乱データを用いた Contrast Source Inversion（CSI）法を適用している．CSI法とは,コントラストと解析領域内の全電界の積をコントラスト・ソースとして定義し,共役勾配法のアルゴリズムに基づいて,逆散乱問題を汎関数の最小化問題に帰着させる手法である．また,正則化法として,加算型の Total Variation 正則化法を組み込む．今後の課題として，比誘電率の適用範囲の拡大，虚像の除去等が挙げられる．