平成30年度電気・情報関係学会九州支部連合大会（第71回連合大会）講演論文集
セッションID: 03-2P-02
会議情報
主催: 電気・情報関係学会九州支部連合大会委員会
会議名: 平成30年度電気・情報関係学会九州支部連合大会
回次: 71
開催地: 大分大学
開催日: 2018/09/27 - 2018/09/28
通常動作時の温度状況を考慮したBISTの品質向上
詳細
主催: 電気・情報関係学会九州支部連合大会委員会
会議名: 平成30年度電気・情報関係学会九州支部連合大会
回次: 71
開催地: 大分大学
開催日: 2018/09/27 - 2018/09/28
LSI の微細化及び高速化に伴い，微小遅延欠陥が問題となっている．微小遅延欠陥は遅延テストで検出されるが，テスト時の温度変動によって遅延値が変動し，検出を妨げる．本研究は組込み自己テストにおける高精度遅延テストを実現するため，通常動作時の温度状況を考慮したテストパターン印加手法を提案する．本手法はスキャンフリップフロップ(FF)の出力にマスク回路を付加し、スキャンシフト時のFFの出力の信号遷移を制御することで電力を調整し，温度制御を行う．本発表は，キャプチャ動作を複数サイクル行うことによる電力の減少に着目し，キャプチャサイクル10回目の電力を通常動作の電力と仮定し、この時とテスト動作時の温度の違いを報告する．
