主催: 電気・情報関係学会九州支部連合大会委員会
会議名: 平成30年度電気・情報関係学会九州支部連合大会
回次: 71
開催地: 大分大学
開催日: 2018/09/27 - 2018/09/28
近年のIoT技術の普及に伴い,生活の中でLSIがより多く使用されており,LSIのセキュリティの重要性が増している.セキュリティ問題の一つに,ハードウェアトロイがある.本発表では,ハードウェアトロイ検出のためのテスト生成手法について提案する.ハードウェアトロイ検出には,遅延量などの情報を用いたサイドチャネル解析手法が主に用いられる.提案手法では経路の遅延量解析を行い,各同一遅延グループ内で遅延活性化パターンのランダムペアを作成する.LSI製造後,ペアの二つの経路の遅延量にずれが生じたか測定し,ハードウェアトロイの検出を行う.提案手法によるハードウェアトロイ検出能力について評価を行い,結果を示す.