多周波AR-CSI法による２層誘電体円柱の再構成：内層の軸ずれ量と正則化パラメータの関係

抄録

本研究では，電磁波逆散乱問題の解析に多周波散乱データを用いたContrast Source Inversion（CSI）法を適用する．CSI法とは，コントラストと解析領域内の全電界の積をコントラスト・ソースとして定義し，共役勾配法のアルゴリズムに基づいて，逆散乱問題を汎関数の最小化問題に帰着させる手法である．また，正則化法として，加算型（Additive Regularized）のTotal Variation 正則化法を適用する．本稿では，２層誘電体円柱の再構成における結果の改善を目指し，内層の軸ずれ量と正則化項に含まれる重み付けである正則化パラメータの関係について，数値的に検討している．