電子顕微鏡を用いた鋼板表面解析技術

抄録

走査電子顕微鏡（SEM），透過電子顕微鏡（TEM），に集束イオンビーム（FIB）を用いた鋼板表面解析技術をレビューする．最近の解析技術の進歩を，防食皮膜や腐食部を含む鋼板の表面，表層断面についての我々の研究結果を示しながら紹介する．