逐次XCTによる応力腐食割れの進展挙動の追究

抄録

各種産業プラント用の構造材料であるステンレス鋼における応力腐食割れ（SCC）を抑制するためには，き裂の進展挙動を解明することが重要である．進展するき裂の定量的な時間依存性を追究することを目的として，X線コンピュータ断層撮影（XCT）を用いて，SCC時間に対する同一き裂の深さおよび開口径の変化を明らかにした．得られた成果は，SCC挙動の解明に寄与するとともに，寿命予測や材料設計に関する技術向上に貢献する．