SUS304のすきま腐食挙動とすきま内pH（pHc）との関係を明らかにするために，定電位分極と半導体化学センサによるすきま内pHの同時測定をおこなった.
センサで測定されたpHは，金属イオンの影響を受けず，水素イオンの活量およびγH＋を反映した値を示す．定電位分極によりすきま腐食が常に進行している場合，溶解した金属イオンのうち，主としてCr3＋の加水分解反応やクロリド錯イオン形成に伴い，すきま内全体がpHc＜0.0の極低pH環境となる．
一方，二段定電位分極法を用いた場合，すきま内の金属溶解量は二段目の電位（E2）に依存して低下し，最終的に再不働態化に至る．本研究の場合，すきま腐食進展後の再不働態化pHcは2.5～3，再不働態化電位ERは約80 mVという工学的意義の高い結果を得た．
