日本放射線影響学会大会講演要旨集
日本放射線影響学会第49回大会
セッションID: WS2-3
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高LET放射線によるDNA損傷と細胞応答
高LET放射線によって誘発されたDNA二本鎖切断の収量ならびに質的違いにおよぼす酸素の影響
*平山 亮一松本 孔貴渡邉 雅彦野口 実穂扶川 武志古澤 佳也安藤 興一岡安 隆一
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抄録
【目的】酸素存在下でX線照射された培養細胞は非酸素存在下で照射された細胞に比べ感受性が高いことは酸素効果として古くから知られている。一方、重粒子線のような高LET放射線の場合には酸素効果は小さくなり、酸素による放射線増感効果は小さいと言える。我々は細胞致死ならびにDNA二本鎖切断における初期収量と酸素の関係を明らかにすることを目的とした。また、DNA二本鎖切断を培養細胞内で修復させることにより大気下ならびに低酸素下で生成したDNA二本鎖切断の質的違いについて考察した。【方法】200kVp X線と放医研HIMACから供給された炭素線(LET: ∼ 80 keV/μm)用いてチャイニーズハムスター卵巣(CHO)細胞を大気下ならびに低酸素下で照射した。DNA二本鎖切断の検出は定電圧電気泳動法(Static-Field Gel Electrophoresis)を用いて定量・解析を行った。DNA二本鎖切断の初期損傷の定量は照射時より4℃下で行い、残存損傷は大気下37℃で15分_から_3時間の修復処理後に定量した。【結果および考察】炭素線では酸素の存在により細胞致死効果が1.9倍も高まり、高LET放射線でも酸素効果は観察された(X線では2.8倍)。また、DNA損傷の初期収量は酸素の存在により2.1倍も増大した(X線では5.8倍)。修復15分∼3時間後の残存DNA損傷比は1.9 ∼ 2.6(平均2.3 ± 0.2)であり、初期DNA損傷比とほとんど変わらなかった。修復3時間におけるDNA損傷修復率は大気下照射ならびに低酸素下照射の場合それぞれ80, 79%であった(X線ではそれぞれ97, 95%)。これらの結果より、炭素線照射時の酸素影響として1)DNA損傷の初期収量の増大が認められ、2)修復による残存DNA損傷比の変化が少ないことからDNA損傷の質的違いが少ない、ことが示唆された。
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© 2006 日本放射線影響学会
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