光電子分光法　IV　角度分解光電子分光法

Lee J.D.; 永富 隆清; 水谷 五郎; 遠藤 一央

doi:10.1384/jsa.17.64

連載（講義）

光電子分光法　IV　角度分解光電子分光法

Lee J.D., 永富隆清, 水谷五郎, 遠藤一央

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ジャーナルフリー

2010 年 17 巻 2 号 p. 64-86

DOI https://doi.org/10.1384/jsa.17.64

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抄録

角度分解光電子分光法（ARPES）は，固体とその表面の電子構造の運動量依存性，すなわち電子構造のバンド分散 ε(k)を測定する有力な実験手法である．ARPESは低次元（一次元あるいは二次元）相関電子系における準粒子励起における電子相関の影響を調べるための理想的な手法でもある．本稿では，自由電子的な三次元系から低次元強相関電子系までの系に対するARPESの代表的な研究とその有効性について概説する．

責任著者(Corresponding author)

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