主催: 一般社団法人 日本機械学会
会議名: 生産システム部門研究発表講演会2021
開催日: 2021/03/08 - 2021/03/09
近年、深層学習技術による画像認識分野の発展と共に外観検査への応用が進展しつつある。しかし、深層学習を用いた外観検査には三つの問題がある。それは、組込みシステムを考える際にはコンピュータリソースが限られていること、大量生産品の外観検査ではタクトタイム要求が厳しいこと、不良品の見逃しは最悪の場合命に関わる危険性があるため高い精度が求められることである。本研究ではこれら三つの問題に対して「フィルタレベルの枝刈り」という軽量化手法を用いて高精度・軽量・高速な深層学習モデルを構築する手法を提案する。