生産システム部門講演会講演論文集
Online ISSN : 2424-3108
セッションID: 607
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フィルタレベルの枝刈りを用いた外観検査AIの軽量化及び推論高速化
山根 大河木下 裕介梅田 靖増田 周弥濱田 徳亜
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会議録・要旨集 認証あり

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抄録

近年、深層学習技術による画像認識分野の発展と共に外観検査への応用が進展しつつある。しかし、深層学習を用いた外観検査には三つの問題がある。それは、組込みシステムを考える際にはコンピュータリソースが限られていること、大量生産品の外観検査ではタクトタイム要求が厳しいこと、不良品の見逃しは最悪の場合命に関わる危険性があるため高い精度が求められることである。本研究ではこれら三つの問題に対して「フィルタレベルの枝刈り」という軽量化手法を用いて高精度・軽量・高速な深層学習モデルを構築する手法を提案する。

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© 2021 一般社団法人 日本機械学会
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