抄録
イネ完全長cDNA約13,000種類を個々に発現するシロイヌナズナ形質転換系統（イネFOXライン）を用いて有用形質を示す変異体の選抜をすることで、イネ有用遺伝子の探索を行っている。本研究ではイネFOXラインからのUV-B耐性変異体を単離する目的で、UV-B照射下での根の伸長程度を指標にしたroot bending assayによる選抜を行ってきた。
現在までに約7,000系統のT2種子を用いた選抜が終了している。その中から49系統の候補を単離し各々のラインに含まれる50種類のcDNAを同定した。同定されたcDNAをシロイヌナズナに再導入し、そのうち28種類について表現型が再現できるか確認を行った。
上記の方法で単離された変異体の中には、UV-Bの有無に関わらず根の成長が促進される変異体が含まれる可能性がある。再導入により得られた変異系統にはそのような候補が15系統含まれていた。その多くの系統に含まれるcDNAは機能未知であったが、一部でCDPK, CIPKなどのストレス応答が知られる遺伝子が含まれていた。一方で、UV-B処理区のみ根の屈曲異常が見られる変異体が1系統得られ、この系統にはオーキシン応答遺伝子が挿入されていた。これらについては現在詳細な解析を行っている。
本研究は、平成17年度科学技術振興調整費「イネ完全長cDNAによる有用形質高速探索」によって行なわれている研究である。
