「かぐや（セレーネ）」搭載蛍光エックス線分光計（XRS）による月面元素分析手法の開発を進めている．本報告では、その手法の概要について紹介する．特に，われわれは月表面のラフネスによる蛍光X線強度への影響とその補正方法について検討してきている．ラフネスには２種類あり，X線吸収長程度の微小凹凸による影響と，より大きな地形的凹凸による影響がある．さらに，鉱物サイズが無視できないことによる効果も検討している．これらを定式化することが大量データで解析する上で重要であり，それらの検討を進めている．その現状についても紹介する．
