特集記事
放射光によるデータ駆動型全散乱計測
―不均質現象の原子スケール可視化に向けて―
2020 年 40 巻 159 号 p. 33-36
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2020 年 40 巻 159 号 p. 33-36
高輝度X線である放射光をプローブとして全散乱計測を行えば，バルク内部の不均質現象を原子スケールで可視化することができる．しかし，計測ノイズや解析ノイズが律速となっており実現に至っていない．本稿では，X線検出器で長年課題となっている感度ムラノイズを補正するデータ駆動型アプローチについて述べる．
