イオン液体先行薄膜に対するFM-AFMを用いた局所構造解析

抄録

固体基板上の不揮発性液滴の周りには、先行薄膜と呼ばれる厚さ数nmの薄膜が数百μmに渡って広がっている。電位制御可能な液滴と連続する先行薄膜は、XPSなどの表面敏感な手法により電解液/電極界面の解析をするのに有効だと考えられる。本研究では、新規電解液として期待されるイオン液体の先行薄膜に対してFM-AFM測定を行い、膜厚に応じた界面構造を評価した。