光電子ホログラフィーによる黒リンの表面構造解析

抄録

二次元層状物質である黒リンは次世代ナノデバイス材料として注目されている。DFT計算により黒リン表面近傍の緩和の可能性が報告されているが、その表面構造は十分理解されていないと思われる。本研究では光電子ホログラフィーを用いて黒リンの構造解析を行い、実験像とシミュレーションとの比較を行うことで、表面緩和の観測を試みた。