ToF-SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析）による木材化学研究

抄録

飛行時間型二次イオン質量分析（ToF-SIMS）による木材分析について概説する。ToF-SIMSは，木材切片や紙などの試料表面を，前処理することなく直接測定することが可能である。ToF-SIMSの最大の利点は，イメージ像を得ることにより，試料表面の化学物質分布を可視化できることである。これまでに，リグニン構造解析やパルプ・紙表面の化学特性，また，心材抽出成分分布の分析などに適用されている。ここでは，ToF-SIMSの木材研究への適用例に加え，ToF-SIMSの生体試料分析の最前線，ToF-SIMS分析の将来展望について考察する。