改良型深孔穿孔法による電子ビーム溶接部の残留応力評価

抄録

板厚内部の残留応力を実測する手法として、深穴穿孔法（DHD法）が知られている。本研究では、DHD法をベースとし、より高精度化させたMIRS法という手法を用い、電子ビーム溶接部の残留応力評価を試みた。測定結果は、Ｘ線回折法およびFEM解析と比較した。