交流ティグ溶接における電極の飛散メカニズムの検討

飯田 健太; 茂田 正哉; 古免 久弥; 田中 学

doi:10.14920/jwstaikai.2021f.0_26

2021年度秋季全国大会

DOI https://doi.org/10.14920/jwstaikai.2021f.0_26

会議情報

主催: 一般社団法人　溶接学会

会議名: 2021年度溶接学会秋季全国大会

回次: 109

開催地: オンライン開催

開催日: 2021/09/21 - 2021/09/28

交流ティグ溶接における電極の飛散メカニズムの検討

*飯田健太, 茂田正哉, 古免久弥, 田中学

著者情報

キーワード: 交流ティグ溶接, 飛散, 電極温度, イオン衝突

会議録・要旨集認証あり

p. 26-27

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抄録

交流ティグ溶接中に電極から発生する飛散現象を明らかにするため、高速度カメラを用いて実験観察を行った。その結果、電流値が大きいとき、電極径が小さいときおよびEP比率が大きいときといった電極温度が高くなる条件で飛散が発生しやすいことが明らかとなった。またEN極性時はEP極性時に比べて飛散が少なかった。これはEN極性時の電極温度の低下に加え、アーク中の陽イオンが陰極となった電極へと衝突するためと考えられた

責任著者(Corresponding author)

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