低密度および高密度ポリエチレンのX線図的研究

第2報X線計数管による小角干渉強度の測定

抄録

前報において低密度および高密度ポリエチレンの結晶化度および配列度を測定したが, 本報においては, 同一試料についてX線小角干渉を測定した。その結果, 子午線方向には顕著な干渉山が生じ, 低密度および高密度のものでそれぞれ160-177A, 177-189Aの大周期をもつことがわかった。また赤道線干渉強度を測定し, Kratkyらの理論を適用することによって, それぞれの試料について104-115A, 140-106Aの最も確率の多い結晶間間隔をもつことがわかった。