マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第18回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第18回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
チップレベルLSIテストに向けた微細コンタクトバンプ形成技術の開発
*鈴木 基史, 横島 時彦, 井川 登, 岡田 義邦, 仲川 博, 青柳 昌宏, 三浦 政敏, 高橋 剛, 北山 公也, 江藤 篤志, 姫野 智浩, 丸井 彰
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p. 2B1-3-

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