マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第21回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

第21回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
プリント配線板の IVH (Interstitial Via Hole)における熱疲労寿命のばらつきに関する解析的検討
*竹中 国浩于 強
著者情報
会議録・要旨集 フリー

p. 177-180

詳細
記事の1ページ目
著者関連情報
© 2011 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
前の記事 次の記事
feedback
Top