マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第22回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第22回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
SEMとデジタル画像相関法によるひずみ計測を利用した三次元積層チップの非線形有限要素法解析の精度向上
*岡 大智, 河原 真哉, 池田 徹, 宮崎 則幸, 松本 圭二, 小原 さゆり, 折井 靖光, 山田 文明, 嘉田 守弘
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p. 163-166

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