マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第24回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第24回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
ラマン分光法を用いたSiC MOSFETの応力の温度依存性評価
*内田 智之, 小坂 賢一, 遠藤 亮, 山元 隆志, 杉江 隆一
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p. 49-52

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© 2014 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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