マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第26回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第26回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
車載向けCu/Ni/Sn-0.7Cu接合部エレクトロマイグレーション起因の故障モード解析
*瀬井 翼, 酒井 翼, 武 直矢, 門口 卓矢, 野口 真男, 山中 公博
著者情報
会議録・要旨集 フリー

p. 51-54

詳細
PDFをダウンロード (788K)
メタデータをダウンロード RIS形式

(EndNote、Reference Manager、ProCite、RefWorksとの互換性あり)

BIB TEX形式

(BibDesk、LaTeXとの互換性あり)

テキスト
メタデータのダウンロード方法
発行機関連絡先
記事の1ページ目
著者関連情報
© 2016 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
前の記事 次の記事
お気に入り & アラート

閲覧履歴
このページを共有する
feedback
 Top