マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第29回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
セッションID: 2A3-4
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第29回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
サーモマイグレーションがNi-P/Sn-0.7Cuはんだ接合部に及ぼす影響
*大矢 怜史, 新子 比呂志
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