抄録
市販各種エポキシ樹脂の構成成分解析に電界脱離質量分析法 (FD-MS法) の適用を試みた。各エポキシ樹脂のFD-MSスペクトルには構成分子種に対応する分子イオンあるいは擬分子イオンが観測された。そのスペクトルパターンは主骨格構造と分子量分布を反映して変化し, スペクトルの比較からエポキシ樹脂の構成成分が明確に解析できることがわかった。また, 従来の分析手段では分離, 同定が困難であった塩素原子を含む分子種や原料の水酸基が残存する分子種あるいはエポキシ基に水が付加した分子種等のエポキシ樹脂製造工程中に生成した種々の副反応物や中間体あるいは未反応物についても各分子種に対応して検出した分子イオンあるいは擬分子イオンピークから容易に解析することができた。
比較的簡単な測定により構成成分に関して多くの知見が得られるFD-MS法は今までに見られない全く新しい分析手段であり今後広く活用が期待される。
