応用物理
Online ISSN : 2188-2290
Print ISSN : 0369-8009
技術ノート
集束イオンビーム加工法におけるマイクロサンプリング
－ピンポイント観察のための透過電子顕微鏡用試料作製技術－
杉山 昌章
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2003 年 72 巻 5 号 p. 600-601

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