STMで調べたEL2センターの双安定挙動

応用物理

Online ISSN : 2188-2290
Print ISSN : 0369-8009

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STMで調べたEL2センターの双安定挙動

飛田聡, 目良裕, 前田康二

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ジャーナルフリー

2003 年 72 巻 6 号 p. 736-740

DOI https://doi.org/10.11470/oubutsu.72.6_736

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抄録

STM(Scanning Tunneling Microscopy)を用いて，低温成長したGaAs結晶中に存在するAsアンチサイトと考えられる欠陥がEL2センターと同じ双安定挙動を示すことを明らかにした．実験結果に基づき，EL2センターの原子構造およびフォトクウェンチ効果のメカニズムを議論した．

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© 2003 公益社団法人応用物理学会

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