解説
惑星科学におけるX線観測
2005 年 74 巻 4 号 p. 439-445
詳細
2005 年 74 巻 4 号 p. 439-445
惑星科学におけるX線観測は，表面物質の元素の基本的な分析手段として月惑星探査の黎明期以来，常に用いられてきた．太陽X線を励起源とするグローバルマッピングと放射線源を使用するその場観察が行われている．新しいセンサーの開発，電子回路系の軽量化，CPUの進歩によるデータ処理の高速化などにより，元素分析の質と量の高度化が進んでいる．本稿では，惑星科学におけるX線分析の歴史についてまず述べ，現状・将来への展望を紹介する．
