2006 年 75 巻 4 号 p. 467-472
窒化物半導体の転位密度の低減に,成長時におけるファセット制御が非常に重要である.GaNの有機金属気相成長(MOVPE)では,選択成長の結晶形態は成長温度,成長圧力などにより制御できる.ファセット構造を制御しながら選択横方向成長(ELO)を行うFACELOにより,106 cm-2台まで転位密度の低減が可能となった.また,高いAlNモル分率で低転位密度AlGaN膜を作製するため,凹凸のあるエピタキシャルAlN基板を下地として用いてMOVPE法により成長を行った.この方法により,107cm-2台までAlGaNの転位密度の低減を可能にした.