最近の展望
デバイス電極材料と仕事関数
2007 年 76 巻 4 号 p. 399-404
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2007 年 76 巻 4 号 p. 399-404
まず，仕事関数の定義，電子的描像，最近の第一原理による仕事関数計算などについて述べ，仕事関数がバルクのみではなく表面の結晶配列や欠陥などに敏感な物性量であることを示した．次に，仕事関数の測定法についていくつか紹介するとともに，測定の注意点について触れた．さらに，仕事関数の異なる二つの表面の接触＝界面へと仕事関数の電子的描像を拡張し，電極材料開発で問題となっている実効仕事関数制御へと関連づけした．
