最近の展望
半導体技術が支える放射線イメージング
2014 年 83 巻 4 号 p. 284-287
詳細
2014 年 83 巻 4 号 p. 284-287
放射線イメージングは物質透過能の高い放射線を活用して，測定対象の内部情報を得る手段として，広く用いられている．近年の半導体技術の進展に伴い，高精細なイメージングが可能となり，光子計数型の検出器の発展が目覚ましい．本稿では，放射線イメージングの特徴・原理から始め，現在，本分野において用いられている半導体技術について概観し，それらの発展による放射線イメージングの将来展望を行う．
