2015 年 84 巻 3 号 p. 245-249
有機半導体のLUMO準位(空準位,電子親和力)のエネルギーについての情報は,電子伝導に関わることから有機エレクトロニクスにとって重要である.それにもかかわらず,これまで適当な実験手法がなく,測定が困難であった.我々は,低エネルギー逆光電子分光法という新しい測定法を開発し,有機デバイスと同じく薄膜試料についてのLUMO準位の精密測定が可能になった.本稿では,その原理や特徴について述べる.また,有機発光素子や有機太陽電池などの有機エレクトロニクスへの本手法の応用例についても紹介する.