表面ラベルグレーティング法による高分子フィルムの表面歪(ひず)み解析

抄録

フレキシブルな高分子フィルムの湾曲における疲労や破壊挙動の解明が近年，エレクトロニクスディスプレイ材料の開発で強く望まれている．フィルムがどのように曲がるかは一見簡単に思えるが，実は定量的な議論がなされていないのが現状である．本稿では，曲がるフィルムの表面歪みを簡便に定量解析する表面ラベルグレーティング法を紹介する．ソフトマターである高分子フィルムに特有な表面歪みを解き明かすことにより，今後材料開発の設計や分子設計に指針を与えると期待できる．