国立研究開発法人産業技術総合研究所 太陽光発電研究センター
2015 年 84 巻 7 号 p. 648-653
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太陽光発電システムは,メガソーラーや住宅用で急速に普及が拡大している.長期間にわたる発電量の維持・向上や発電コスト低減のために,太陽電池モジュールの長期信頼性や寿命がますます重要となっている.本稿では,結晶Si太陽電池モジュールの屋内環境試験による高温・高湿条件下での劣化,ならびに高電圧誘起の劣化(PID現象)について,それぞれの劣化メカニズムと対策技術を紹介する.