応用物理
Online ISSN : 2188-2290
Print ISSN : 0369-8009
基礎講座
観察技術(電子顕微鏡)のコツ
柴田 直哉
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ジャーナル 認証あり

2015 年 84 巻 8 号 p. 754-757

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抄録

透過型電子顕微鏡(TEM)は,像のコントラストが材料中のどのような情報を引き出しているのかを理解して(制御して)用いることが不可欠です.また,試料作製が観察全体の成否を決定する場合が多いことも特徴の1つです.ここでは,TEMの像コントラスト解釈における基礎,観察における注意点ならびに試料作製方法などについて解説します.

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© 2015 公益社団法人応用物理学会
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