東京大学 大学院工学系研究科 総合研究機構
2015 年 84 巻 8 号 p. 754-757
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透過型電子顕微鏡(TEM)は,像のコントラストが材料中のどのような情報を引き出しているのかを理解して(制御して)用いることが不可欠です.また,試料作製が観察全体の成否を決定する場合が多いことも特徴の1つです.ここでは,TEMの像コントラスト解釈における基礎,観察における注意点ならびに試料作製方法などについて解説します.
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