東京大学 生産技術研究所
東京大学 大学院総合文化研究科 国立研究開発法人情報通信研究機構
2017 年 86 巻 3 号 p. 198-203
(EndNote、Reference Manager、ProCite、RefWorksとの互換性あり)
(BibDesk、LaTeXとの互換性あり)
本稿では,あらゆる物質中にどんな条件下でも存在する揺らぎを検出する顕微鏡の原理を説明し,応用例を示す.また,金属表面に熱励起されたエバネッセント波の観察,電流を流した金属細線中,および半導体の微細素子のホットエレクトロンの可視化と,それを基にした非局所的な伝導についても記す.
すでにアカウントをお持ちの場合 サインインはこちら