カソードルミネッセンス観測による薄膜・表面局所構造と光物性

抄録

透過型電子顕微鏡 (TEM) で電子ビームを照射ずることにより物質内部の周所的な構造を観察すると同時に局所領域の光物性を評価ずるカソードルミネッセンス法,および走査型トンネル顕微鏡 (STM) で表面観察と同時に表面光物性を調べる最近の手法について紹介する.