日本セラミックス協会 年会・秋季シンポジウム 講演予稿集
第15回秋季シンポジウム
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偏光顕微鏡による成形体の粒子配向評価
牧谷 敦田中 諭内田 希植松 敬三木村 恒久北沢 宏一
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p. 85

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抄録
セラミックス中の粒子配向構造は、セラミックスの機械的特性と電気的特性を向上させるのに非常に有効である。しかしながら、その構造を形成するには粒子形状と製造プロセスの制限がある。一方近年超伝導磁石の発達に伴い、比較的大きな空間で強磁場が得られるようになってきた。これにより強磁場が非磁性体におよぼす影響が注目され、また、新規の材料製造プロセスとしても注目されている。本研究では構造用セラミックスとして代表的な非磁性体であるアルミナに注目し、強磁場中で粒子配向セラミックスの製造を試みた。作製試料の粒子配向はXRDと偏光顕微鏡により評価した。この結果から、アルミナ粒子のC軸が磁場方向に沿って配向することを認めた。
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©  日本セラミックス協会 2002
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