日本セラミックス協会 年会・秋季シンポジウム 講演予稿集
2008年年会講演予稿集
セッションID: 1D25
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分子軌道計算によるSi NMR 化学シフトに対するホウ素の影響評価
*浅野 裕大崎田 真一紅野 安彦難波 徳郎
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抄録
B2O3とSiO2を含むホウケイ酸ガラスの構造に関しては、異なる測定手段により異なるモデルが提案されている。筆者らの研究グループでは、11Bおよび29Si MAS NMRにより見積られる非架橋酸素(NBO)量が一致しないことを見出し、この原因としてSiO4ユニットにBO4ユニットが配位することにより、NBOが配位したSiと同程度の29Si NMR化学シフトを示す可能性を指摘した1)。そこで本研究では、SiO4ユニットにBOnユニットが配位することによる29Si NMR化学シフトの変化について、分子軌道計算に基づいて考察した。
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©  日本セラミックス協会 2008
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