抄録
Na5RSi4O12 (N5型)結晶化ガラスはSiO4四面体の12員環構造を希土類元素Rで結合した3次元のトンネル構造を持ち、Na+をキャリアーとした安定で高いイオン導電性をもつことが知られている。本研究ではRをYとし、Siの一部をイオン半径および価数の異なるB、Al、Ti、Te、Ge、P、V、Moで一部置換したN5型単一相結晶化ガラスを作製し、Siを一部置換する元素の違いによる電導度の変化、結晶化の活性化エネルギーの変化、SEMによる観察から微構造の違いを調べた。また交流二端子法による電導度測定を行った。