日本セラミックス協会 年会・秋季シンポジウム 講演予稿集
2012年年会講演予稿集
セッションID: 2H21
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ゾル-ゲル法により作製されるTiO2薄膜の残留応力に及ぼす熱処理条件の効果
幸塚 広光*中西 俊介内山 弘章
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抄録
モル比Ti(OC3H7i)4: H2O:HNO3:C2H5OH = 1:1:0.2:20なる溶液をコーティング液とするゾル-ゲル法によってSi(100)ウェハ上にチタニアゲル膜を作製し、100℃間隔で10 minずつ900℃まで順次熱処理し、熱処理を行うたびに薄膜の面内残留応力を測定した。残留応力(引張応力)は熱処理温度の上層とともに増大し、熱処理温度を400℃から600℃まで上昇させると若干減少した。熱処理温度を600℃以上に上奏させると残留応力は急激に増大した。
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©  日本セラミックス協会 2012
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