人工知能学会全国大会論文集
Online ISSN : 2758-7347
第34回 (2020)
セッションID: 2I4-GS-2-04
会議情報

生産工程における不良要因検知
*大坪 洋介大谷 直也近末 恵美杉山 将
著者情報
会議録・要旨集 フリー

詳細
抄録

精密機器の量産の工程では,ときに設計仕様を満たさない不良品が発生する.本研究は,生産工程の最終段階で取得された正常時の製品の性能データと異常時の性能データから,不良要因となる部品パラメータを検知することを目的とする.量産品の場合,工程の上流にある部品パラメータのデータはほぼ取得できず,また数百の部品がロット単位で管理されている.そこで本研究は,生産工程シミュレータと密度比推定を利用した不良要因手法を提案する.数値実験によって手法の適用範囲を明らかにし,実際の工程で取得されたデータに手法を適用した.得られた結果は,設計情報のドメイン知識と比較し合理的なものであった.

著者関連情報
© 2020 一般社団法人 人工知能学会
前の記事 次の記事
feedback
Top