ミュラー行列計測によるPLZTの偏光特性の電圧依存性（第4報） 分域内の偏光特性分布

銀屋 真; 水谷 康弘; 岩田 哲郎; 大谷 幸利

doi:10.11522/pscjspe.2012S.0.1017.0

2012年度精密工学会春季大会

セッションID: M20

DOI https://doi.org/10.11522/pscjspe.2012S.0.1017.0

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主催: 公益社団法人精密工学会

ミュラー行列計測によるPLZTの偏光特性の電圧依存性（第4報）

分域内の偏光特性分布

*銀屋真, 水谷康弘, 岩田哲郎, 大谷幸利

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キーワード: 偏光特性, 強誘電体, 偏光計, PLZT, ミュラー行列

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抄録

PLZTは，自発分極のそろった領域である分域が結晶中に複数存在するため，透過光に偏光解消が起こり，詳細な偏光特性を得ることが難しい．そこで，全偏光特性を表現できるミュラー行列に着目し，PLZTの偏光特性を定量化する．前報では，印可電圧による分域構造の変化と偏光特性変化の関係について報告した．本報では，分域内での偏光特性の空間分布の印加電圧による変化を観察し，より微小な領域での偏光特性変化について考察する．

責任著者(Corresponding author)

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