主催: 公益社団法人精密工学会
東レエンジニアリング エレクトロニクス事業本部 開発センター
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分光法に代表される従来の光学的膜厚測定法は、基本的に点計測であり、水平方向分解能も制限されている。我々は3波長ワンショット干渉法のために開発した広域モデル適合(GMF)アルゴリズムを展開し、膜厚分布測定法を開発した。3波長照明系とカラーカメラにより得られる干渉画像から膜厚を推定する。計算機実験と実サンプル測定により、提案手法の妥当性を確認した。単純な光学系で、高速な膜厚分布測定が可能である。
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