精密工学会学術講演会講演論文集
2013年度精密工学会春季大会
セッションID: F68
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ACバイアス変調を用いた走査型イオン伝導顕微鏡による染色体の観察
*石崎 公大中島 真人牛木 辰男岩田 太
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抄録
走査型イオン伝導顕微鏡は開口数百nmのピペット内を流れるイオン電流を検出することにより,液中内で生体試料を生きたまま,非接触で観察が可能なる.ホエジカの染色体は一般に表面が強い負に帯電していることで知られている.そのため表面付近に存在するイオン層によるイオン電流の検出への影響が問題となってくる.しかしながら交流のバイアス電圧を用いることで試料表面の帯電に影響されることなくイメージンが可能となった.
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© 2013 公益社団法人 精密工学会
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