ジャイロを用いた高精度形状評価（第2報） 光ファイバジャイロの反転測定

久米 達哉; 佐藤 政則; 諏訪田 剛; 古川 和朗; 奥山 栄樹

doi:10.11522/pscjspe.2014S.0_53

2014年度精密工学会春季大会

セッションID: A43

DOI https://doi.org/10.11522/pscjspe.2014S.0_53

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主催: 公益社団法人精密工学会

ジャイロを用いた高精度形状評価（第2報）

光ファイバジャイロの反転測定

*久米達哉, 佐藤政則, 諏訪田剛, 古川和朗, 奥山栄樹

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キーワード: 形状測定, ジャイロ, ドリフト, 反転測定

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抄録

我々は,長尺対象物の高精度な形状評価の実現を目指して,水平面内を含むあらゆる方向の方位角が検出可能なジャイロを用いた検討を行っている.高精度な光方式のジャイロでは,ドリフトが最大の誤差要因になるものと見込まれるが,前報までに反転測定により除去,緩和する方法を考案し,効果を見積もった.ここでは,比較的小型かつ高精度な光ファイバジャイロのドリフト特性を評価し,反転測定によるドリフト低減効果を検証した.

責任著者(Corresponding author)

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